头戴耳机按键寿命试验机 型号：mk-9635k 设备简介： 头戴耳机按键寿命试验机用于头戴耳机按键寿命测试。本机采用砝码重力往复打击模拟人对按键来回按压试验。 技术参数： 1、测试工位：四组 2、按压荷重砝码：50g、100g、200g、300g、500g各四个 3、试验次数计数器：0-99999999次（可预置，lcd显示） 　 4、试验速度：5-60次/分（旋钮可调，lcd显示） 5、测试行程：15mm 7、固定治具：耳机固定治具四组 8、打击头：塑胶打击头 9、外形尺寸（l×w×h）：500×400×700mm 10、机台重量：45kg 11、工作电源：ac220v、50hz 设备特点： 1、箱体采用静电烤漆处理，整机设计合理结构紧固，运行稳定、安全、准确； 2、根据各类头戴耳机按键产品测试制造，试验夹具、行程可调，应用广泛； 3、四组工位同时工作，大大提高测试效率； 4、试验速度、次数，人性化设计，操作方便快捷。